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四探针粉末电阻测试仪

阅读人数:383 发布时间:2020/7/30 15:08:14

 四探针粉末电阻测试仪

四探针电阻率测试仪

产品名称:四探针电阻率测试仪

产品型号:GEST-126

产品概述

仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。

仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。

仪器采用了最新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。

本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试

 仪器主要技术指标:                                                            

一、 测量范围:

电阻率:0.00001~20000Ω.cm (可扩展)

方块电阻:0.0001~200000Ω/ (可扩展)

电导率:0.00005~10000 s/cm;

电阻:0.00001~20000Ω.cm;

 二、 电压测量:

1. 量程0.01mV-2000 mV

2.  分辨力:10μV;

3.  输入阻抗>1000MΩ;

4.  精度:±0.1% ;

5. 显示:触摸屏操作显示

四探针粉末电阻测试仪

数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。

    仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。

    仪器采用了最新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。

    本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。

四探针软件测试系统是一个运行在计算机上拥有友好测试界面的用户程序,通过此测试程序辅助使用户简便地进行各项测试及获得测试数据并对测试数据进行统计分析。

四探针粉末电阻测试仪

三、 恒流源:

1 电流输出:10μA, 100μA, 1mA, 10mA, 100mA, 1A,

2.    电流误差:±0.5%

3.   各档连续可调

四、 四探针测试电极:

1. 间距:1±0.01mm;
    2.针间绝缘电阻:1000MΩ;
    3. 机械游移率:0.3%;
    4.探针:碳化钨或高速钢Ф0.5mm;
    5. 探针压力:5~16 牛顿(总力);

五、数据打印:

可对测试结果进行打印,显示结果为:电压、电流、电阻、电阻率

六、试验模式:

     手动实验:选择恒流源,在设定的恒流源下测试

自动试验:自动扫描合适的量程范围测试

微机测试:连接电脑通过软件进行测试

四探针粉末电阻测试仪

QJ 2220.2-1992 涂层电绝缘性能测试方法 绝缘电阻、表面电阻率、体积电阻率的测试方法

GB/T 10581-2006 绝缘材料在高温下电阻和电阻率的试验方法

GB/T 12703.4-2010 纺织品  静电性能的评定  第4部分:电阻率

GB/T_10064-2006_测定固体绝缘材料绝缘电阻的试验方法

DL 421-1991 绝缘油体积电阻率测定法

GB/T 5654-2007 液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量

是材料抗高电压而不产生介电击穿能力的量度,将试样放置在电极之间,并通过 一系列的步骤升高所施加的电压直到发生介电击穿,以次测量介电强度。尽管所得的结果是以kv/mm为单位的,但并不表明与试样的厚度无关。因此,只有在试样厚度相同的条件下得到各种材料的数据才有可比性。

GB/T 3048.2-2007电线电缆电性能试验方法_第02部分_金属导体材料电阻率试

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GB/T 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法

GB/T 15662-1995 导电、防静电塑料体积电阻率测试方法

GB/T 15738-2008 导电和抗静电纤维增强塑料电阻率试验方法

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