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电缆屏蔽电阻率测试仪

采购热度:24 发布时间:2020/8/12 14:29:23

型号:

价格:电议 产地:中国大陆

简单介绍:电缆屏蔽电阻率测试仪
主要用于测量粉末材料电阻率试验的专用仪器.
由于粉末材料的密实度不同,在松装和振实密度条件下,所测试得到的数据是不同的,所以测试粉末电
电缆屏蔽电阻率测试仪

详细介绍
电缆屏蔽电阻率测试仪

半导电屏蔽层电阻率测试仪

产品名称:半导屏蔽层电阻率测试仪

产品型号:GEST-125A

满足标准:

GBT 11017.1-2014 额定电压110kV Um=126kV 交联聚乙烯绝缘电力电缆及其附件 第1部分 试验方法和要求  D半导电屏蔽电阻率测量方法

产品概述:

仪器用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率,采用四端子电流—电压降压法原理,能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响,通过专用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻。

 仪器由电气箱和测试架两大部分组成,测试架具有夹持加压机构,能够良好地夹紧各种不同直径的屏蔽电缆,具有环形准确度达0.3%的电位电极和电流电极确保仪器取样位置精度高、使用方便、外形轻巧,适应在常温和恒温箱中测量。

电缆屏蔽电阻率测试仪
参数资料
1.方块电阻范围:10-5~2×105Ω/□
2.电阻率范围:10-6~2×106Ω-cm 
3.测试电流范围:0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA
4.电流精度:±0.1%读数
5.电阻精度:≤0.3%
6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
7.测试方式: 普通单电测量
8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗:<30W
9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)
10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台
11.测试探头:   探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针

冠测公司自主研发电性能专业检测仪器分类

序号

设备名称

设备型号

测试指标

备注

1

电压击穿试验仪

DDJ10KV-150KV

介电强度、泄漏电流

介电强度、泄漏电流

2

体积表面电阻测定仪

GEST-121

体积电阻率、表面电阻率

体积电阻率、表面电阻率

3

高频介电常数测试仪

GCSTD-A

介电常数、介质损耗

测试频率10KHZ-50MHZ

4

高频介电常数测试仪

GCSTD-B

介电常数、介质损耗

测试频率20KHZ-160MHZ

5

工频介电常数测试仪

GCSTD-C

介电常数、介质损耗

测试频率50HZ

6

高低频介电常数测试仪

GCSTD-D

介电常数、介质损耗

测试频率20HZ-5MHZ

7

耐电弧试验仪

NDH-A

耐电弧

微机控制、触摸屏控制

8

高压漏电起痕试验仪

NLD-AI

高压等级测试

电压6KV

9

耐电痕化指数测定仪

NLD-B

CTI\PTI

电压600V

10

电线电缆耐电痕试验仪

NLD-C

漏电痕迹、电痕化

触摸屏

11

导体电阻率测定仪

GEST-125

导体电阻率

触摸屏

12

半导体电阻率测定仪

GEST-123

半导体电阻率

触摸屏

13

炭素材料电阻率测定仪

GEST-122

电阻率

触摸屏

14

石油焦粉末电阻率测定仪

GEST-124

电阻率

触摸屏

15

回路电阻测定仪

HLD-100A

回路电阻

数字

16

高温耐压试验仪

DDJT-10KV-150KV

高温耐压

温度和电压范围可选

17

介电温谱特性测定仪

GCWP-A

温谱、频谱

温度和频率范围可选

电缆屏蔽电阻率测试仪

仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点,完全符合国际和国家标准的要求。

    本仪器适合电缆研究部门,电缆厂,对于高压交联电缆半导电屏蔽层电阻率的测试是必须具备的测试设备。

 仪器主要技术指标:                                                            

一、 测量范围:

测量半导电电阻率时: 电阻率10-5--105Ω-cm;分辩率10-6Ω-cm

                      测量其他(电线电缆)电阻时: 电阻10-4--2X105Ω,分辨率1uΩ

二、 测量电压:

1 量程 2 mV20 mV200 mV2V

2 测量误差  2mA±(0.5%读数+8)20mV—2V±(0.5%读数+2)

3 显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示,小数点、单位自动显示。

三、 恒流源:

1 电流输出:10μA100μA1mA10mA100mA500 mA

2.    电流误差:±(0.5%读数+2)

四、 测量电极:

电缆导电屏蔽层直径:10mm35mm

         电缆绝缘屏蔽层直径:50mm140mm

         电位电极间距:50mm±0.25mm

         电流电极与电位电极距离>25mm

、数据打印:

可以测试结果进行打印,配有嵌入式微型打印机

六、电源要求:

1220±10%   50HZ60HZ 功率消耗<50W

电缆屏蔽电阻率测试仪
四探针电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,可以测量硅、锗单晶电阻率和硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃和其他导电薄膜的方块电阻,主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能。广泛用于半导体厂家、太阳能行业,还能满足科研单位的精密研究。
  电阻率是反映半导体材料导电性能的重要参数之一。测量电阻率的方法很多,四探针法是一种广泛采用的标准方法。它的优点是设备简单、操作方便,精确度高,对样品的形状无严格要求。
  最常用的是直线型四探针。四根探针的针尖在同一直线上,并且间距相等,都是S,一般采用0.5mm的间距,不同的探针间距需要对测量结果做相应的校正。
  四探针电阻率测试仪测试四探针笔方法:
  一般情况下,更换钢针之类,不需要拆开探头,只需要用拔出要更换的钢针,再重新安装新针,如果断针在孔内并且不拆开难以取出,必须按照以下步骤进行操作:
  1、先松开笔身尾部端侧面的固定小螺丝,轻轻脱下尾部航空插口,保证探针头部旋转时同步旋转,防止扭线断线,短接;
  2、轻轻拧开探针头子,然后小心将铜片拉出,记住七片绝缘片与铜片之间的位置,(四片铜片每片间夹一片绝缘片,两边的铜片外侧各两片),将断针从铜片卡口座里取下即可;
  3、特别注意一定不能将铜片取下时的位置错乱,铜片位置按照航空头四芯1234接线绿红黄黑的顺序一字排列,并且铜片之间按照宽窄顺序互相交叉排列,以免短接;
  4、安装时铜片及绝缘片按照拆下时的排列轻轻塞进探针头子,并先将探针头子拧紧,再将尾部航空头插上,并且旋紧小螺丝;
  5、将针装好,注意针头针尾方向,尖头为探针头部。

更新时间:2020/9/8 15:31:19

标签:电缆屏蔽电阻率测试仪   

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