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介电常数关于介质损耗因数tanδ的讲解

阅读人数:433 发布时间:2019/6/1 15:02:16

介电常数关于介质损耗因数tanδ的讲解
 介质损耗因数tanδ
介质损耗因数tanδ按照所用的测量装置给定的公式,根据测出的数值来计算。
8.3精度要求
在第5章和附录A中所规定的精度是:电容率精度为±1%,介质损耗因数的精度为±(5%±0.0005)。这些精度至少取决于三个因素:即电容和介质损耗因数的实测精度;所用电极装置引起的这些量的校正精度;极间法向真空电容的计算精度(见表1)。
在较低频率下,电容的测量精度能达±(0.1%土0.02pF),介质损耗因数的测量精度能达±(2%±0.00005)。在较高频率下,其误差增大,电容的测量精度为±(0.5%±0,1PF),介质损耗因数的测量精度为±(2%±0.0002)。
对于带有保护电极的试样,其测量精度只考虑极间法向真空电容时有计算误差。但由被保护电极和保护电极之间的间隙太宽而引起的误差通常大到百分之零点几,而校正只能计算到其本身值的百分乏几。如果试样厚度的测量能精确到±0.005mm,则对平均厚度为1.6mm的试样,其厚度测量误差能达到百分之零点几。圆形试样的直径能测定到±0.1%的精度,但它是以平方的形式引人误差的,综合这些因素,极间法向真空电容的测量误差为±0.5%。
对表面加有电极的试样的电容,若采用测微计电极测量时,只要试样直径比测微计电极足够小,则只需要进行极间法向电容的修正。采用其他的一些方法来测量两电极试样时,边缘电容和对地电容的计算将带来一些误差,因为它们的误差都可达到试样电容的2%?40%。根据目前有关这些电容资料,计算边缘电容的误差为10%,计算对地电容的误差为因此带来总的误差是百分之几十到百分之几。当电极不接地时,对地电容误差可大大减小。
采用测微计电极时,数量级是0.03的介质损耗因数可测到真值的±0.0003,数量级0.0002的介质损耗因数可测到真值的±0.00005介质损耗因数的范围通常是0.0001?0.1,但也可扩展到0.1以上。频率在10MHz和20MHz之间时,有可能检测出0.00002的介质损耗因数。1?5的相对电容率可测到其真值的±2%,该精度不仅受到计算极间法向真空电容测量精度的限制,也受到测微计电极系统误差的限制。
绝缘纸介电常数介质损耗测试仪9、试验报告
试验报告中应给出下列相关内容:
绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样日期(并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况);
试样条件处理的方法和处理时间;
电极装置类型,若有加在试样上的电极应注明其类型;
测量仪器
试验时的温度和相对湿度以及试样的温度;
施加的电压;
施加的频率;
相对电容率εr(平均值);
介质损耗因数tanδ(平均值);
试验日期;
相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角,必要时,应给出与温度和频率的关系。

介电常数关于介质损耗因数tanδ的讲解
本仪器中测试装置是由平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。使用WY2852A或WY2853A数字Q表具有自动计算介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)。
 特点:
本公司创新的自动Q值保持技术,使测Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。
能对固体绝缘材料在100kHz~100MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。
调谐回路残余电感值低至8nH,保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。
特制TFT彩屏菜单式显示多参数:介电常数(ε),介质损耗角(tanδ),Q值,测试频率,调谐状态和调谐电容值等。
Q值量程自动/手动量程控制。
DPLL合成发生1kHz~70MHz(WY2852A/D),50kHz~160MHz(WY2853A/D)测试信号。独立信号源输出口,所以本机又是一台合成信号源。
测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
2 主要技术指标:
2.1 tanδ和ε性能:
2.1.1 固体绝缘材料测试频率100kHz~100MHz的tan δ 和 ε 变化的测试。
2.1.2 tan δ 和 ε 测量范围:
    tan δ:0.1~0.00005,ε:1~50
2.1.3 tan δ 和 ε 测量精度(1MHz):
    tan δ:±5%±0.00005,ε:±2%
电感器:
    按测试频率要求,需要配置不同量的电感器。例如:在1MHz测试频率时,要配100μH 或250μH 电感器,在50MHz测试频率时,要配0.1μH电感器等。
介电常数关于介质损耗因数tanδ的讲解
本系统专为高校及研究所配备,测试样品介电性能。系统配同惠LCR电桥,测试频率范围20Hz~300kHz,基本精确度:0.05%。系统实现-196℃~260℃的升温测试功能以及260℃~室温的降温测试功能,极限温度区间可以达到-196℃~300℃的升温测试功能以及300℃~室温的降温测试功能。可以同时测试4个样品,大大节省了测试时间。下图为4通道切换的数据采集的程序面板及测量得到的数据图。
如试样直径为0,那么“体积法”显示界面中体积电阻率的值不显示或显示“NO-Para?”。.电容触控按键板前面板右侧按键板六个按键,按下每个按键均有相应的LCD界面显示其状态。上排三个按键,从左到右为”通讯”、”设置”、”手动”键。下排三个按键,从左到右为”质量法”、”体积法”、”长度法”键。“通讯”按键:按此键后,进入与上位机的数据通讯模式。此时”通讯”键指示灯亮,显示液晶屏进入数据通讯显示界面,只有再次按此键后才退出数据通讯模式(显示液晶屏不显示数据通讯显示界面,而显示测试界面工作模式)。此功能需硬件配合,为可选件。“设置”按键:按此键后,仪器进入数据设置模式,此时”设置”键指示灯亮,显示液晶屏进入数据设置显示界面。
解读高低温介电温谱测量系统厂家价格可实验性, 大量散热产品的散热主要依靠对流,即依靠产品周围空气流动来散热,对流散热一般又分为强迫通风散热和自然对流散热。自然对流散热是依靠产品发热产生的温度场,造成产品周围空气的温度梯度,使空气流动散热。强迫通风散热是通过强制措施,迫使空气流过产品,带走产品产生的热量。对强迫对流散热来说,在体积流不变情况下,随高度增加,大气压将伴随着空气密度降低。空气密度降低将直接影响强迫对流散热的效果。这是由于强迫对流散热是依靠气体的流动带走热量的。一般电机用的冷却风扇,是保证流过电机的体积流量不变,当高度增加时,由于空气密度下降,即使体积流量不变,气流的质量流量将随之降低。一般可以认为空气的比热是个常数,由于质量的减少,空气吸收的热量也将减少,产品温度将随大气压力降低而升高。
 当然,随高度增加,对流散热减少,辐射散热增加。高度越高,空气密度越低,对流散热耗散的热量所占的比例越来越大,在相当高的高度上,辐射散热将成为主要的散热形式。
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