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点击次数:2006 发布时间:2019/5/5 17:05:29
冠测高温介电温谱测量系统软件升级简介
GCWP-A
一、 概述:
高低温介电常数适用于各种金属氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物质的一项重要的物理性质,通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究科研机关、高校、工厂等地方。它是在特殊环境下,测量介质在该环境温度下的介电常数。
电容保护功能
提供内置充电电容保护装置,防止仪器被电容损坏,具有高压倒灌保护装置
波形处理:峰值搜索和局部分析曲线放大分析功能
测量速度:测量速度快20s
数据处理:测量波形数据自动转换成CSV、BMP文件格式
扫描显示:50、100、200、400、800、1600
测量夹具:多种夹具可供客户选择;也可以为客户定制
仪器外观 :长750mm(7.5"); 宽660mm(17.37"),高360mm(20.5");重30Kg(32 lb)
通讯接口 :USB、screen shot、LAN、VGA及GPIB接口
高温测量装置
测量温度:室温-1000℃
升温时间 :室温-700℃升温时间为20分钟,室温-1000℃升温时间为40分钟,
升温斜率 :2℃/min
控温精度 :±1℃
控温方式 :采用PID精确控温
高温样品杆 :耐高温、1000℃不氧化、电极阻抗低、绝缘好
测试方法 :两线法和四线法
绝缘材料 :氧化铝陶瓷绝缘,特殊模具加工
高温炉尺寸:650mm(L)*430mm(W)*690mm(D)
冠测高温介电温谱测量系统软件升级简介
高温介电测量系统可用于分析宽频、高低温条件下被测样品的阻抗Z,电抗X,导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量,同时还可以分测量样品随温度、频率变化的曲线。通过PST-Dconstant软件将这些变化曲线的频率谱、温度谱、偏压谱、阻抗谱、介电谱、cole-cole图等集成一体并进行分析进行分析测量,高温介电测量系统测量的频率从20Hz--10MHz,测量的温度从室温--1000℃。
目前高温介电测量系统可广泛应用于陶瓷材料、半导体器件及功能薄膜材料等研究。
高温介电测量系统特点:
1、高温实现从室温到1000℃,升温斜率:2℃/min,控温精度:±1℃;
2、测量频率从20Hz-10MHz,测量精度0.05%;
3、高温介电测量系统采用铂金电极和引线,高温样品杆1000℃不氧化;
4、高温介电测量系统采用平行板电容器设计原理,样品放置位置灵活,可快捷安装和拆卸;
5、高温介电测量系统采用特殊设计处理和软件补偿,解决了因测量导线过长造成的测量误差等问题;
6、高温介电测量系统采用进口可控硅和PID精确控温,发热功率800W;
7、样品杆采用特殊设计,样品损坏率低,并能与电极保持良好接触。
8、样品和样品杆之间经特殊设计及加工,绝缘性能优良,解决了在高温条件下样品和样品杆之间绝缘难的问题;
9、系统阻抗分析仪可以配置英国WK精密阻抗分析仪,可以配置Agilent4294A或E4980A;
10、中文软件操作界面,菜单便捷,使用方便;
11、丰富多样的曲线图输出,软件可提供温度谱、偏压谱、阻抗谱、频率谱、时间谱、介电谱、Cole-Cole图,可在多窗口之间方便切换;
12、一次扫描*多可达1600个点,具有线性和对数扫描;
13、提供-40V至+40V的直流偏置电压,可以测量样品C-V曲线;
14、数据可通过主机USB接口直接存储,也可通过GPIB接口和软件进行存储。
15、提供二年内免费功能升级的超值服务;
16、高温介电测量系统还可以扩展测量样品在变温条件下的I-V曲线、电阻率测量、热释电、磁电容等测量功能;
冠测高温介电温谱测量系统软件升级简介产品优势:
1.耐高温、1000°C不氧化,电极阻抗低、绝缘好.
2.四通道测试,可以同时测试1-4个样品,方便快捷
3.数据分析软件:提供多种扫描曲线,可以在多窗口之间切换数据
技术指标:
(1).测试温度范围-196-250℃,升温速率可控、测试温度跨度可选;
(2).4样品8频点同时测量,无需中途更换样品,测试误差不高于3%;
(3).测试速度快,全温度范围4样品8频点测试仅需150min;
(4).多功能测试,可实现材料研究的ε-D、Z-θ等12种参数的温/频谱测试,亦可实现元器件特定频段12种参数的精细化温/频谱测试;
(5).高安全性,测试完毕自动停止升温,可实现无人值守测试;
(6).实时控制、实时显示、实时数据计算、处理与存储;
(7).数据文件格式规范,可与主流数据分析软件兼容;
(8).高集成度,便于操作。
冠测高温介电温谱测量系统软件升级简介
原创作者:北京冠测精电仪器设备有限公司